1.а)  Дифракционные методы-рентгеноструктурный анализ и нейронография-как важнейшие источники структурно-химической информации.    

   б) Их основы, возможности и ограничения.

   в)  Результаты расшифровки ( пространственные группы, параметры ячейки, координаты, заселённости и тепловые параметры независимых атомов)

2. Важнейшие журналы и система доступа к файлам кристаллографической информации.

3. Базы данных и программы для визуализации и анализа структурных данных(DIAMOND, TOPOS)

4. Примеры описания структуры.

5. Список использованной литературы.

• Дифракционные методы исследования структур.
• Нейтроноструктурный анализ.
• Основные задачи рентгеноструктурного анализа в химии. Стереохимические задачи.
• Новые задачи рентгеноструктурного анализа в физической химии.
• Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
• Степень размытости максимумов рассеивающей материи.
• Сходимость рядов Фурье.
• Зависимость мощности максимумов от атомных номеров.
• Распределение электронной плотности по элементарной ячейке.
• Параметры ячейки.
• Тепловые колебания независимых атомов в кристалле.
• Важнейшие журналы и система доступа к файлам кристаллографической информации.
• Базы  данных и программы для визуализации и анализа структурных данных(TOPOS,DIAMONT).
• Использование компьютерных баз данных для анализа больших объёмов кристаллоструктурной информации.
• Компьютерные программы для кристаллохимического анализа.
• Комплекс программ для кристаллохимического анализа TOPOS.  Общая структура программного комплекса.
• СУБД.
• Поиск кристаллохимических закономерностей по большим выборкам.
• Заключение.