Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.
Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.
Смотрите также
Вода. Тяжелая вода
Вода — весьма распространенное на Земле
вещество. Почти 3/4 поверхности земного шара
покрыты водой, образующей океаны, моря, реки и
озера. Много воды находится в газообразном состоянии в ви ...
Этиленгликоль
Спирты представляют собой соединения общей формулы
ROH, в которых гидроксильная группа присоединена к насыщенному атому углерода.
По номенклатуре ИЮПАК насыщенные спирты называют алканолами, ...
Целлюлоза
...