Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.
Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.
Смотрите также
Динамика полимерных цепей в процессах структурных и химических превращений макромолекул
Динамика
полимерных цепей в растворе характеризуется совокупностью релаксационных
процессов, связанных с движением (вращательным или поступательным)
макромолекулы как целого или тех или ины ...
Введение.
XX в. насыщен многими событиями, которые
будоражили и потрясали земную цивилизацию. Шла борьба за передел мира, за
сферы экономического и политического влияния, за источники минерального сырь ...
Железоуглеродистые сплавы: фазовое и структурное состояние
Железоуглеродистые
сплавы, стали и чугуны в течение целой эпохи являлись основой развития
человеческой цивилизации. И это связано, с одной стороны, с большой
распространенностью железа в зе ...
