Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.
Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.
Смотрите также
Этапы определения АК последовательности в пептидах. Синтез белка
Предварительное
освобождение каждого анализируемого пептида от примесей других.
1.
Идентификация NH2- и СООН - концевых остатков.
2.
Расщепление с помощью трипсина неповрежденной цепи ...
Получение фенолов
Наибольшие
количества фенола используются для получения фенолформальдегидных смол, которые
применяются в производстве фенопластов. Большие количества фенола
перерабатывают в циклогексанол, ...
Материальный и тепловой балансы
Основой
материального баланса является закон сохранения материи, согласно которому
количество материала, поступающего в процесс (приходные статьи материального
баланса), равняется количеству продук ...