Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.
Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.
Смотрите также
Заключение
В результате исследований был опредёлён оптимальный химический
состав композиции для шпаклевания листа из ударопрочного полистирола и АВС. Рекомендуемые
соотношения реагентов приведены в та ...
Синтез твердых растворов и исследования низкотемпературных фазовых превращений
В последнее время
наблюдается усиленный интерес к исследованиям твердофазных процессов с
применением ионных электролитов. Для этих исследований имеет большое значение создание
твердых элект ...
Особенности кинетики реакций на поверхности гетерогенных катализаторов
Рассмотрим подробнее применение закона действия масс
для реакций на поверхности. Для описания скорости элементарной стадии
используют закон действия поверхностей. Если процесс определяется с ...