Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.
Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.
Смотрите также
Список
сокращений
1.
БЕ
– буферная емкость.
2.
БР
– блок подготовки и закачки реагента.
3.
БРХ
– блок реагентного хозяйства.
...
Экономическое обоснование проекта
Расчет капитальных затрат на
создание проектируемого объекта
Таблица №28 - Расчет
капитальных затрат на здания и сооружения
Наименования
зданий и сооружений
Ед. изм.
...
Химия парфюмерно-косметических изделий
Слово « косметика» происходит от
греческого слова kosmetike,
что означает « искусство украшать себя», а «парфюмерия»- от французского
parfum, те приятный запах, духи.
Письменные источник ...