Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.

Полезные материалы / Поиск структурно-химической информации в Internet / Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.

Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.

Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.

Смотрите также

Методики теоретического и экспериментального исследования системы Al - АГСВ - каталитические добавки
  В данной главе описаны основные методики, которые использовались в данной работе. А именно: – методика термодинамического расчета по программе Астра-4; – методика зажигания нагретой ...

Влияние вязкости и дисперсности несовместимых полимеров на волокнообразование в их смесях
В настоящее время широкое применение получают методы формования полимерных материалов с заданной структурой на основе смесей несовместимых полимеров. Так, кристаллизующиеся полимеры при соде ...

Приложение 1
Структура потребности мира в энергии за 1993 год Всего           Нефть         Уголь                  Газ             АЭС           Прочие ______________________________________________________ ...