Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.
Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.
Смотрите также
Этапы определения АК последовательности в пептидах. Синтез белка
Предварительное
освобождение каждого анализируемого пептида от примесей других.
1.
Идентификация NH2- и СООН - концевых остатков.
2.
Расщепление с помощью трипсина неповрежденной цепи ...
Нитрование ароматических углеводородов. Производство нитро-бензола
Нитрования –
один из важнейших процессов в химической промышленности. Продукты, получаемые
за счёт нитрования, являются полуфабрикатами для производства многих товаров
различных ...
Ртуть
Ртуть (лат. Hudrargyrum) – химический элемент 2 группы
периодической системы Менделеева; атомный номер 80, атомная масса 200,59. Ртуть
– элемент редкий и рассеянный, его содержание примерно ...