Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.
Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.
Смотрите также
Получение алканов, алкенов, алкинов. Важнейшие представители. Применение в промышленности
Предельными углеводородами (алканами) называются соединения,
состоящие из атомов углерода и водорода, соединенных между собой только
Q-связями, и не содержащие циклов. В алканах атомы углеро ...
Климатические воздействия и их характеристики. Радиационные воздействия их характеристика
...
Несимметричные сульфиды
Полимерные вещества внедрились во все сферы
человеческой деятельности – технику, здравоохранение, быт. Ежедневно мы
сталкиваемся с различными пластмассами, резинами, синтетическими волокнами ...