Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.
Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.
Смотрите также
Химия в сельском хозяйстве и её направления
Химизация — это одно из направлений научно-технического прогресса,
основанное на широком применении химических веществ, процессов и методов в
различных отраслях, например в сельском хозяй ...
Вода
Вода, у тебя нет ни цвета, ни вкуса, ни запаха, тебя
невозможно описать, тобой наслаждаются, не ведая, что ты такое. Нельзя сказать,
что необходимо для жизни: ты сама жизнь. Ты исполняешь ...
Синтез, свойства и применение дифениламина. Амины и их свойства
Дифениламин (N,N-Дифениламин) –
ароматический амин, бесцветное кристаллическое вещество, темнеет на воздухе.
Чешуйки или мелкие кристаллы от светло-жёлтого до светло-коричневого или
расплав ...