Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.

Полезные материалы / Поиск структурно-химической информации в Internet / Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.

Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.

Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.

Смотрите также

Химия наследственности. Нуклеиновые кислоты. ДНК. РНК. Репликация ДНК и передача наследственной информации
         Мы рождаемся, взрослеем, у нас появляются дети и внуки. Мы ни одни живые существа на этой планете, вокруг нас ежечасно, ежесекундно происходит зарождение новой жизни. Этот процесс ...

Колебательные спекторы бета-дикетонатов палладия (II) и их интерпретация
...

Синтез хлорида олова (IV)
В этой работе рассмотрены свойства хлорида олова (IV), методы синтеза и применение. Хлорид олова (IV) – вещество, необходимое  в неорганическом синтезе; в данный момент в  лаборатории отсу ...