Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.

Полезные материалы / Поиск структурно-химической информации в Internet / Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.

Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.

Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.

Смотрите также

Вода. Тяжелая вода
Вода — весьма распространенное на Земле вещество. Почти 3/4 поверхности земного шара покрыты водой, образующей океаны, моря, реки и озера. Много воды находится в газообразном состоянии в ви ...

Этиленгликоль
Спирты представляют собой соединения общей формулы ROH, в которых гидроксильная группа присоединена к насыщенному атому углерода. По номенклатуре ИЮПАК насыщенные спирты называют алканолами, ...

Целлюлоза
...