Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.
Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.
Смотрите также
Химия парфюмерно-косметических изделий
Слово « косметика» происходит от
греческого слова kosmetike,
что означает « искусство украшать себя», а «парфюмерия»- от французского
parfum, те приятный запах, духи.
Письменные источник ...
К вопросу о металлической связи в плотнейших упаковках химических элементов
Обычно в литературе металлическая связь описывается,
как осуществленная посредством обобществления внешних электронов атомов и не
обладающая свойством направленности. Хотя встречаются попытк ...
Полимеры, содержащие 6-метилурацил и его производные
Исследовано
влияние 6-метилурацила и некоторых его производных на радикальную полимеризацию
метилметакрилата. Синтезирован эпоксиакриловый олигомер на основе
эпоксидсодержащих урацилов и ег ...