Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.

Полезные материалы / Поиск структурно-химической информации в Internet / Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.

Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.

Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.

Смотрите также

Приложение 6
Подготовка нефти, включая газовый конденсат, в тоннах Российская Федераци                       910610930 Западная Сибирь                             708316453 Тюменская область              ...

ПО Маяк
...

Водные ресурсы
...