Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа и нейтронографии кристаллов.
Основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, применимы как в РСА, так и в нейтронографическом(НСА) структурном анализе. Оба метода основаны на одном общем эффекте-дифракции волн, пропускаемых через кристалл, и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, а поток нейтронов рассеивается ядрами атомов.
Однако как технические, так во многих отношениях и принципиальные возможности этих родственных методов далеко неодинаковы.
Смотрите также
Химия пищеварения рационального питания
...
Заключение
В заключение
курсового проекта можно сказать, что в процессе его создания были выполнены следующие
цели:
·
изложены основные концепции появления и ...
Каучуки
Каучуки — натуральные или
синтетические материалы, характеризующиеся эластичностью, водонепроницаемостью
и электроизоляционными свойствами, из которых путём специальной обработки
получают р ...