Растровая электронная микроскопия как метод исследования поверхностей адгезионного контакта и разрушения
Смотрите также
Гомологические и аналитические пары спектральных линий
При изменении
температуры источника возбуждения спектра (ИВС) значительно изменяется
интенсивность спектральных линий, поэтому в качестве аналитических пар
спектральных линий используют гомологичес ...