Растровая электронная микроскопия как метод исследования поверхностей адгезионного контакта и разрушения
Смотрите также
Первая группа периодической системы
Структура внешних электронных слоев в атомах элементов
I группы позволяет прежде всего предполагать отсутствие у них тенденции к
присоединению электронов. С другой стороны, отдача единственного внеш ...
Поиск структурно-химической информации в Internet
1.а)
Дифракционные методы-рентгеноструктурный анализ и нейронография-как важнейшие
источники структурно-химической информации.
б) Их основы, возможности и ограничения.
в) ...