Растровая электронная микроскопия как метод исследования поверхностей адгезионного контакта и разрушения
Смотрите также
Физико-химические свойства нефтей
...
Химические способы очистки поверхностей полупроводниковых пластин
Современный этап развития радиоэлектроники
характеризуется широким применением интегральных микросхем (ИМС) во всех
радиотехнических системах и аппаратуре. Это связано со значительным усложн ...