Растровая электронная микроскопия как метод исследования поверхностей адгезионного контакта и разрушения
Смотрите также
Третья группа периодической системы
Атомы элементов данной группы содержат во внешнем слое
максимально по три электрона. Поэтому тенденция к дальнейшему присоединению
электронов (с пополнением внешнего слоя до октета) не может быть д ...
Колебательные химические реакции
...
Синтез диэтилового эфира малоновой кислоты. Свойства и основные методы получения сложных эфиров
...
